Quem Somos

Waldir Avansi Júnior é professor adjunto no Departamento de Física da Universidade Federal de São Carlos (UFSCar). Possui graduação - Bacharelado e Licenciatura -em Física pela Universidade Estadual Paulista Júlio de Mesquita Filho (2003), mestrado (2006) e doutorado (2010) em Física Aplicada pelo Instituto de Física de São Carlos (IFSC) da Universidade de São Paulo (USP). Estágio no Institut Materiaux Microeletronique Nanosciences de Provence (IM2NP), França (2009) e estágio no Laboratorio de Microscopia Avançada (LMA) do Instituto de Nanociências de Aragon (INA) da Universidade de Zaragoza, Espanha (2012). Tem experiência na área de Física, com ênfase na área de síntese e caracterização de materiais nanoestruturados. Atua principalmente nos seguintes temas: Caracterização da estrutura local e eletrônica de óxidos nanoestruturados, estudo dos mecanismos de crescimento de nanoestruturas e suas atividades catalíticas. Utiliza em suas pesquisas as seguintes técnicas: Espectroscopia de Absorção de Raios X (XAS), Difração de Raios X (DRX) e técnicas avançadas de Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET).

Luís Fernando da Silva é professor adjunto no Departamento de Física da Universidade Federal de São Carlos. Em 2006, graduou-se em Física pela Universidade Estadual Paulista. Realizou mestrado e doutorado em Ciência e Engenharia de Materiais pela Escola de Engenharia de São Carlos, Universidade de São Paulo (2009; 2013). Em 2014 recebeu o Prêmio de Melhor Tese de Doutorado pela CAPES. Durante o doutorado, realizou estágio na equipe de Microcapteurs na Université Aix-Marseille (Marselha, França). Realizou pós-doutorado no Instituto de Química (IQ-UNESP), com estágio de Pós-Doutorado (2016) no grupo de Materiais Multifuncionais da ETH Zürich (Zurique, Suíça). Em Janeiro e Fevereiro de 2019, atuou como professor visitante no Institut Matériaux Microélectronique Nanosciences de Provence (Marselha, França). Atualmente, desenvolve pesquisa na área de síntese de óxidos semicondutores (pós e filmes) por métodos físicos e químicos. As principais técnicas de caracterização aplicadas são microscopia eletrônica (SEM e HRTEM), espectroscopia de absorção de raios-X (XANES e EXAFS), e espectroscopia de fotoelétrons por raios X (XPS). Possui interesse no estudo de semicondutores visando aplicações práticas como sensores resistivos de gases tóxicos.